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基于高光谱成像技术的水稻表型研究

发布日期:2017-07-21 发表者: 浏览次数:3007次

报告题目:基于高光谱成像技术的水稻表型研究

报告人: 冯慧  博士

报告时间:2017年722日(周六)15:00

报告地点:逸夫楼C314会议室

摘要:

在水稻表型测量研究中,叶绿素含量是非常重要的指标。叶绿素吸收光能转化能量,是光合作用中最重要的色素,并为植物生理状态提供重要信息。如何快速、准确和方便的测量植物叶片叶绿素含量等光合作用相关性状参数,对于遗传育种和作物栽培研究具有十分重要的意义。传统方法存在有损、费时费力、测量面积小、易受主管因素影响等缺点。本研究针对水稻叶片色素含量,提出一种基于高光谱成像技术的色素无损测量装置和方法。并且针对光谱指数进行全基因组关联分析(GWAS),其结果显示含有叶绿素位点的光谱指数分布范围包含有与叶绿素含量相关性较高的光谱指数区域,一方面证明了本研究结果的准确性,另一方面为基因信息与光谱数据之间的联系提供了基础。本研究内容为水稻植株全生育期叶绿素含量的检测打下了坚实的基础,对水稻功能基因组学的发展也有一定的促进作用。

报告人简介:

冯慧,女,1987年生,信息学院博士后。2006年至2010年就读于华中科技大学生科院本科;2010年至2015年就读于华中科技大学生物医学光子学专业硕博连读研究生,获博士学位;2015年至今在华中农业大学信息学院从事博士后研究。2016年获得中国博士后科学基金面上资助。冯慧长期从事作物表型性状参数数字化检测研究。近几年主要从事可见光、近红外、远红外和高光谱成像系统建立、作物图像处理分析、数字化参数提取、建模验证等方面的工作。这些研究对于全生育期作物高通量表型检测有重要的意义。在RSI等杂志上发表研究论文9篇,其中一作3篇,获得1项实用新型专利。